В понедельник, 4 декабря, в главном учебном корпусе МГТУ им. Н.Э. Баумана состоится лекция руководителя Проектного офиса Федерального института промышленной собственности Олега Енa на тему «Современная патентная аналитика: техники и инструменты».

Дата и время: 4 декабря 2017 года; 17:30-20:00

Место: г. Москва, ул. 2-ая Бауманская, д. 5 (Главный учебный корпус МГТУ им. Н.Э. Баумана), аудитория 407 (возможно уточнение).

Зарегистрироваться для участия в мероприятии можно по электронной почте: pmo@rupto.ru.