28 июня 2017 г. состоялась тематическая встреча с участием руководства ФИПС на тему «Основы подготовки аналитических отчетов о патентных ландшафтах».
Модератором встречи был О.В. Ена, советник директора ФИПС, руководитель Проектного офиса ФИПС, который обратил внимание слушателей на актуальность патентных ландшафтов и их востребованность в настоящее время не только государственными структурами и крупными предприятиями, но также малыми и средними предприятиями. Проектный офис ФИПС, по словам О.В. Ена, признан на мировом уровне и включен в реестр поставщиков патентной аналитики уровня ВОИС.
Докладчики:
Н.В. Попов, руководитель Центра перспективных технологий ФИПС, «Ключевые аспекты анализа патентной информации»;
А.В. Лаенко, заместитель руководителя Центра перспективных технологий ФИПС, «Современные инструменты патентной аналитики».
В своих выступлениях докладчики подробно изложили вопросы формирования поисковых стратегий, специфики работы с патентными семействами, стандартизация имен, работы с первичными публикациями и правовым статусом документов, особенностей согласованного использования разных аналитических инструментов, анализа патентного цитирования.
Кроме того, участникам встречи были представлены исследования и разработки ФИПС в области патентной аналитики; рассказано о специфике и области применения аналитических продуктов ФИПС. Особое внимание было уделено новому информационному продукту ФИПС patScape.ru.
Отвечая на вопрос О.С. Неверовой, (Тамбовский государственный технический университет) о возможности прохождения стажировки по подготовке аналитических отчетов о патентных ландшафтах, О.В. Ена призвал всех заинтересованных лиц обращаться в Проектный офис ФИПС (pmo@rupto.ru).
Докладчики ответили также и на другие вопросы слушателей.
Во встрече участвовали 94 человека, включая 20 сотрудников Роспатента и ФИПС. Кроме того, в режиме видеоконференции приняли участие ЦПТИ при ГПНТБ СО РАН и Саратовском государственном университете им. Н.Г.Чернышевского – всего 29 человек.
Презентация доклада Н.В. Попова «Основы патентной аналитики»
Презентация доклада А.В. Лаенко «Инструменты анализа патентной и непатентной информации»
Библиографический указатель «Патентные ландшафты»
|
|
|
|
|
|
Фото: Владимир Чистяков, ФИПС
|
|
|
Фотоматериал Саратовского государственного университета
|
