16 мая 2019 года в отделении ВПТБ состоялась тематическая встреча «Подача и рассмотрение заявки на промышленные образцы в соответствии с Гаагским соглашением о международной регистрации промышленных образцов», на которой выступили руководители подразделений и ведущие специалисты ФИПС:
Фото: ФИПС
А.Л. Журавлев, начальник Центра международной кооперации, представил основные положения Женевского Акта Гаагского соглашения о международной регистрации промышленных образцов, информацию об странах-членах Гаагской системы, включая последние присоединения; преимущества подачи международной заявки по сравнению с традиционным способом зарубежной охраны промышленных образцов; особенности присоединения к Гаагскому соглашению Российской Федерации и процедуры рассмотрения международных заявок в Роспатенте, перечень пошлин и т.д.
И.А.Тарасова, главный государственный эксперт по интеллектуальной собственности отдела промышленных образов рассказала об особенностях проведения экспертизы по существу при рассмотрении международных регистраций на промышленные образцы, особое внимание обратив на соблюдение требования единства промышленного образца, с приведением конкретных примеров из практики.
Л.Н. Бородай, заведующий отделом международных регистрационных систем, остановилась на особенностях Гаагской системы международной регистрации промышленных образцов и подачи заявки с помощью электронных сервисов ВОИС, а также Личного кабинета на сайте ФИПС.
Г.А. Негуляев, ведущий научный сотрудник отдела развития информационных ресурсов, классификационных систем и стандартов в области интеллектуальной собственности, изложил особенности и требования к подаче заявок на международную регистрацию промышленных образцов в соответствии с Гаагским соглашением, дал подробные рекомендации по заполнению бланка международной регистрации DM-1, а также охарактеризовал особые требования ведомств ряда зарубежных стран к его заполнению.
Фото: ФИПС
Докладчики, а также И.Ю.Кононенко, заведующий отделом проектирования портальных решений ФИПС, ответили на многочисленные вопросы аудитории, в том числе и поступившие заранее.
На встрече присутствовали 81 человек из Москвы и Московской области, Санкт-Петербурга, Иннополиса (Республика Татарстан), Челябинска, а также сотрудники ФИПС.
В режиме видеоконференции в тематической встрече участвовали ЦПТИ Уральского федерального университета имени первого Президента РФ Б.Н.Ельцина (Екатеринбург) и Саратовского государственного университета имени Н.Г.Чернышевского - всего 24 человека.
Фото: Уральского федерального университета имени первого Президента РФ Б.Н.Ельцина
Презентации докладов:
Андрей Журавлев «Гаагская система международной регистрации промышленных образцов» (скачать, PDF – 4,2 Мб)
Ирина Тарасова «Особенности поведения экспертизы по существу при рассмотрении международных регистраций на промышленные образцы» (скачать, PDF – 1,4 Мб)
Лариса Бородай «Гаагская система международной регистрации промышленных образцов и подача заявки с помощью электронных сервисов» (скачать, PDF – 1,7 Мб)
Геннадий Негуляев «Особенности и требования к подаче заявок на международную регистрацию промышленных образцов в соответствии с Гаагским соглашением» (скачать, PDF – 1,2 Мб)
