10 сентября 2018 года в Отделении ВПТБ состоялась тематическая встреча с участием руководства ФИПС «Современные методы и инструменты патентной аналитики».

Открывая встречу, О.В. Ена, советник директора ФИПС, руководитель Проектного офиса ФИПС, привлек внимание слушателей к деятельности Проектного офиса, которому за два года, прошедшие с начала его работы, удалось стать провайдером патентной аналитики мирового уровня. На сегодняшний день Проектный офис ФИПС - единственная организация в России, имеющий статус «преквалифицированный провайдер патентной аналитики уровня ВОИС», что дает возможность принимать участие в международных проектах.

С докладами по теме встречи выступила Н.А. Поварова, аналитик Центра перспективных технологий ФИПС, кратко познакомившая слушателей с особенностями деятельности шести крупнейших мировых компаний в области патентной аналитики и объемом их информационных ресурсов. Ею была также дана характеристика инструментов патентной аналитики, применяемых на стратегическом (отраслевой патентных ландшафт, патентная технологическая разведка) и операционном (R&D антураж, анализ портфеля патентов) уровнях. Докладчик обратила внимание участников встречи, что за последние 3 года по методикам ВОИС уже разработано более 120 «открытых» отраслевых патентных ландшафтов, которые доступны по ссылке http://www.wipo.int/patentscope/en/programs/patent_landscapes/.

О.В. Ена, а также принимавшие участие во встрече Н.В. Попов, начальник Центра перспективных технологий ФИПС, А.В. Лаенко, заместитель начальника Центра, Ф.А. Батанов, аналитик Центра, ответили на вопросы слушателей, в том числе поступившие заранее. Так, А.В. Лаенко, отвечая на вопрос об оптимальном способе защиты интеллектуальной собственности за рубежом, рекомендовал проводить патентные исследования заранее, использовать предоставляемые преимущества при подаче международных и европейских заявок, а также сообщил, что Российский экспортный центр компенсирует затраты, понесенные заявителями при патентовании по системе РСТ.

Н.В. Попов и Ф.А. Батанов рассказали о технологии подготовки патентных ландшафтов, уделив особое внимание вопросам его качества, одним из необходимых условий которого является тесное взаимодействие с заказчиком в процессе работы, а также после ее окончания, когда заказчик определяет направления дальнейшего мониторинга темы.

О.В. Ена привлек внимание слушателей е важному мероприятию, которое будет проходить в рамках XXII международной конференции Роспатента - Круглому столу «Технологический и бизнес-консалтинг на базе патентной аналитики: продукты и области применения», который состоится 20 сентября с 10 до 13 часов. Предполагается участие как крупных компаний, уже активно использующих патентную аналитику в своей деятельности, так и многочисленных «новичков», которые вынесут на обсуждение аудитории свои проблемы в этой сфере и расскажут об ожиданиях и желаемых результатах. Для участия в Круглом столе необходимо подать заявку на электронный адрес Проектного офиса: pmo@rupto.ru, мероприятие является бесплатным.

Кроме того, отчеты о мероприятиях, проводимых Проектным офисом (ежегодно около 70 мероприятий), размещаются в социальной сети «Фейсбук» по адресу: #ПроектныйОфисФипс.

На встрече присутствовали слушатели из Москвы и Московской области, Нижнего Новгорода, Рязани, Твери, группа студентов Российской государственной академии интеллектуальной собственности (РГАИС), а также сотрудники ФИПС – всего 35 человек. Кроме того, в режиме видеоконференции во встрече участвовали ЦПТИ Алтайской краевой универсальной научной библиотеки имени В.Я. Шишкова (г. Барнаул), а также Политехнического университета Петра Великого (г. Санкт-Петербург) – всего 20 человек.

Дополнительные материалы:

Наталья Поварова, «Современные методы и инструменты патентной аналитики», презентация к докладу (скачать, PDF – 6,2 Мб)