Размер шрифта Цветовая схема Изображения
/ / Обучение патентной аналитике / Обучение патентной аналитике
Обучение патентной аналитике
24 декабря 2019


Деятельность Проектного офиса ФИПС по проведению аналитических исследований на основе патентной информации широко известна уже не только в Российской Федерации, но и за ее пределами.

Эксклюзивный опыт аналитиков Проектного офиса ФИПС по построению отраслевых патентных ландшафтов активно востребован крупнейшими российскими игроками – естественными монополиями, крупными производственными предприятиями.

Специалисты Проектного офиса уже знакомили слушателей ряда образовательных программ Научно-образовательного центра ФИПС с основами патентной аналитики, однако, пришло время специализированной программы продвинутого уровня.

Начиная с февраля 2020 года силами руководителей и ведущих аналитиков Проектного офиса ФИПС реализуется программа повышения квалификации «Патентная аналитика».

Спикеры программы – руководитель Проектного офиса Олег Ена, его заместители Николай Попов и Андрей Лаенко, руководитель направления бизнес-анализа Федор Батанов, ведущий аналитик Наталия Зеленкина и их коллеги познакомят слушателей с инструментарием технологической разведки, структурой патентной информации, научат моделировать предметную область, работать с базами данных. Финалом обучения будет защита тестовых работ – аналитических исследований, подготовленных слушателями под руководством опытных наставников. Таким образом, выпускники программы получат достаточный опыт от топ-спикеров ФИПС для профессиональной самостоятельной работы в области патентной аналитики в будущем!

Первый поток по программе «Патентная аналитика» обучается с 17 по 20 февраля 2020 года.

Количество мест ограничено!
Справки, запись на программы: (495) 5316328; (499)2402475, fips_obr@rupto.ru.
Монастырский Денис Викторович, Начальник Научно-образовательного Центра.