Проектный офис ФИПС провел обучение по программе повышения квалификации «Патентная аналитика». Особенностью программы является комплексный подход, который включает как сложные техники моделирования знаний и углубленного анализа патентов, так и управленческих аспектов применения патентной аналитики.

Важно, что обучение выстроено в триаде «Теория – практика – модельная консалтинговая деятельность», что позволяет слушателям с разным уровнем подготовки приобрести ключевые знания и навыки, а также увидеть потенциал их реального применения для задач управления технологиями.

В ходе пятидневного курса участники освоили современные методы и инструменты работы с патентной информацией: моделирование предметной области, разработку поисковых стратегий, аналитическую обработку данных и визуализацию результатов. Значительная часть обучения была посвящена практическим заданиям. Слушатели работали в командах, выполняя проекты по построению патентных ландшафтов по актуальным направлениям, а по итогам курса представляли результаты своих исследований экспертной комиссии в формате презентаций.

Программа охватывала не только технические модули (работу в информационно-аналитической системе, построение аналитических представлений, использование инструментов генеративного ИИ), — но и бизнес-компоненты, связанные с целеполаганием, интерпретацией аналитических представлений и формированием выводов и рекомендаций для принятия управленческих решений.

В обучении приняли участие руководители, специалисты по интеллектуальной собственности и технические эксперты. Такой состав слушателей обусловлен тем, что патентная аналитика – это междисциплинарный инструмент, объединяющий разные уровни управления технологиями — от решения конкретных инженерных задач до стратегического целеполагания и планирования.

Патентная аналитика сегодня является одним из ключевых инструментов управления технологиями, инновациями и интеллектуальной собственностью. Проведение подобных образовательных программ способствует развитию культуры принятия решений, основанных на данных и подтверждённых объективной патентной информацией.