Размер шрифта Цветовая схема Изображения
/ / Патентная аналитика: делимся опытом с Кыргызпатентом / Патентная аналитика: делимся опытом с Кыргызпатентом
Патентная аналитика: делимся опытом с Кыргызпатентом
22 ноября 2024


20 ноября Проектный офис ФИПС провел видеоконференцию по патентной аналитике для коллег из Государственного агентства интеллектуальной собственности и инноваций при Кабинете Министров Кыргызской Республики (Кыргызпатент), посвященную вопросам применения патентной аналитики.

На мероприятии выступил аналитик Проектного офиса ФИПС Егор Скрынников, который подробно рассказал об особенностях построения отраслевых патентных ландшафтов. Особое внимание в его презентации было уделено тонкостям использования патентной и непатентной информации для анализа технологических трендов и принятия стратегических решений.



Специалисты обменялись опытом, обсудили ключевые кейсы и раскрыли подходы к использованию аналитических инструментов. Обсуждение получилось насыщенным и продуктивным.

Такие встречи помогают укреплять международное сотрудничество и распространять лучшие практики в сфере патентной аналитики.