Размер шрифта Цветовая схема Изображения
/ / Эксперты ФИПС провели онлайн-встречу со студентами МГУ
Эксперты ФИПС провели онлайн-встречу со студентами МГУ
12 Марта 2021

11 марта 2021 года состоялась онлайн-встреча в рамках проекта ВПТБ ФИПС «Научная молодежь об интеллектуальной собственности», участниками которой стали студенты юридического направления Московского государственного университета имени М.В.Ломоносова.

В приветственном слове заведующий Отделением ВПТБ ФИПС Татьяна Кузнецова отметила тщательную подготовленность студентов к диалогу со специалистами ФИПС и выразила надежду, что полученные знания помогут будущим профессионалам соединить теорию и практику в сфере интеллектуальной собственности, к которой сегодня привлекается большое внимание руководителей нашей страны.

В вебинаре приняли участие главный государственный эксперт отдела промышленных образцов ФИПС Любовь Морохова, главный государственный эксперт по интеллектуальной собственности отдела экспертизы заявок на товарные знаки и международных регистраций Надежда Мартышевская и специалист ВПТБ ФИПС Анастасия Токарева.

Темой онлайн-встречи стали промышленные образцы и товарные знаки. Эксперты рассказали об основных положениях государственной охраны объектов интеллектуальной собственности, условиях патентования промышленного образца и регистрации товарного знака, привели интересные примеры из практики.

По итогам выступлений прошла оживленная дискуссия. Студентов МГУ интересовали вопросы международной охраны объектов ИС, разницы между охраной оригинального объекта в рамках патентного или авторского права, раскрытия понятия «информированный потребитель», регистрации товарного знака, защиты объектов в виртуальной среде и т.д. Особо участников заинтересовал вопрос границы сходства и различия между промышленным образцом и объемным товарным знаком.

В заключительной части вебинара Анастасия Токарева провела практическое занятие по работе с патентными информационными ресурсами, такими как Информационно-поисковая система ФИПС, НЭБ, а также познакомила с базами данных DesignView и TmView.