Размер шрифта Цветовая схема Изображения
Методологические основы патентных исследований

Дополнительная профессиональная программа
(повышение квалификации)


Методологические основы патентных исследований





Уважаемые коллеги!

Приглашаем Ваших представителей принять участие в программе повышения квалификации «Методологические основы патентных исследований»
(1-3 апреля 2019 г.).

Лучшие государственные эксперты ФИПС в сфере патентных исследований научат слушателей разбираться в этом сложном, но столь интересном аспекте интеллектуальной собственности.

Стоимость обучения – 23 000 руб.

Обучающимся выдается свидетельство о повышении квалификации установленного образца.


НАУЧНО-ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫЙ ЦЕНТР ФИПС – ВАШ НАДЕЖНЫЙ ПАРТНЕР В ОБЛАСТИ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ!

В марте – июне реализуются и другие актуальные программы повышения квалификации, на которые мы также ждем ваших представителей.

ВСЯ АКТУАЛЬНАЯ ИНФОРМАЦИЯ - OBR.FIPS.RU

Контакты: (499) 2402475, Монастырский Денис Викторович,
Заведующий Научно-образовательным Центром ФИПС.
Справки, запись на программы: (495) 5316328; fips_obr@rupto.ru