Руководитель проектного офиса Федерального института промышленной собственности (ФИПС), советник директора института Олег Ена расскажет о российском опыте практического применения базы данных PatStat в новых инструментах патентной аналитики ФИПС. Доклад будет представлен на специальном мероприятии Европейского патентного ведомства, организованного в рамках конференции «Статистика по интеллектуальной собственности для лиц, принимающих решения», 13 ноября в Мексике.

Мероприятие “PatStat User Day” посвящено обмену лучшими практиками использования базы данных патентной статистики PatStat. В рамках работы секции Олег Ена выступит со специальным докладом о работе сервиса поиска патентных данных www.PatScape.ru . В частности, он расскажет об интеграции российской базы патентных документов с европейской базой данных, об основных преимуществах сервиса PatScape (поиск на 19 языках, более 100 млн документов и др.) и перспективах развития патентного поиска.

Ежегодная конференция «Статистика по интеллектуальной собственности для лиц, принимающих решения» “IP Statistics for Decision Makers-2017” пройдет с 13 по 15 ноября 2017 года в Мексике. В программе конференции – обсуждение подходов и инструментов анализа интеллектуальной собственности в различных отраслях, технологий проведения исследований на основе патентных данных и др.