Размер шрифта Цветовая схема Изображения
/ / ФИПС проведет для студентов НИУ ВШЭ мастер-класс по патентной аналитике
ФИПС проведет для студентов НИУ ВШЭ мастер-класс по патентной аналитике
16 Ноября 2017
master_hse.jpg

В пятницу, 24 ноября, руководитель Проектного офиса Федерального института промышленной собственности, советник директора ФИПС Олег Ена проведет в «Высшей школе экономики» мастер-класс по патентной аналитике.

Мастер-класс «New methods & tools for big patent data analysis» (новые методы и инструменты большого анализа патентных данных) состоится для студентов магистратуры направления «Системы больших данных». Занятие будет проходить на английском языке.

Место и время: г. Москва, ул. Кирпичная, д. 33; 18:10.

Зарегистрироваться для участия в мероприятии можно по электронной почте: pmo@rupto.ru.


Вы находитесь на новом сайте ФИПС.