На заседании научной школы присутствовали около семидесяти специалистов из Москвы, Санкт-Петербурга, Саратова и других городов России.
Обсуждались такие вопросы, как:
-
О ратификации Женевского акта Гаагского соглашения по международной регистрации промышленных образцов (доклачики: Петров Е.Н. - к.т.н.,доцент, зав кафедрой Ревинский О.В. - к.ю.н., доцент, профессор кафедры).
-
Некоторые особенности проведения судебной и патентоведческой экспертизы промышленных образцов (докладчик: Китайский В.Е. - к.т.н., доцент, профессор кафедры).
-
Основные особенности и преимущества Гаагской системы международной регистрации промышленных образцов (докладчик: Морозова Е.А. - ведущий государственный эксперт по интеллектуальной собственности ФГБУ ФИПС).
-
Подача заявок на российские промышленные образцы в электронном виде (докладчик: Кононенко И.Ю. - заведующий отделом сопровождения и развития портальных решений ФГБУ ФИПС).
В качестве консультанта по технологическим и организационным аспектам делопроизводства по международным заявкам на промышленные образцы выступила Сендовская О.А. - старший научный сотрудник отдела технологического и организационного обеспечения ФГБУ ФИПС.
