Размер шрифта Цветовая схема Изображения
/ / На встрече ВОИС расскажут об инструментах патентной аналитики ФИПС
На встрече ВОИС расскажут об инструментах патентной аналитики ФИПС
23 Мая 2018

С 23 по 25 мая 2018 года в Женеве, Швейцария, Всемирная организация интеллектуальной собственности проводит встречу представителей патентных ведомств по информационно-коммуникационным стратегиям и использованию искусственного интеллекта для управления административными процессами в области интеллектуальной собственности.



В мероприятии примут участие руководитель Проектного офиса ФИПС Олег Ена и заместитель директора Федерального института промышленной собственности Александр Горбунов.

В рамках выделенной сессии по обмену практическим опытом предусмотрено выступление Олега Ена по представлению патентной технологической разведки – нового продукта ФИПС в линейке современных продуктов патентной аналитики.

Видеотрансляцию специальной сессии с выступлениями представителей ФИПС и других патентных ведомств можно посмотреть 25 мая (начало в 10:30 мск) по ссылке: http://www.wipo.int/webcasting/en/player2018_01/player_ext_room_a.html.

С 2016 года Роспатент начал развитие направления «Новые инструменты патентной аналитики» в структуре Федерального института промышленной собственности. Ключевой задачей является создание современных инструментов экспертно-аналитической поддержки российских компаний и институтов инновационного развития России.


Вы находитесь на новом сайте ФИПС.